logo-polimi
Loading...
Manifesto
Struttura Corso di Studi
Cerca/Visualizza Manifesto
Regolamento didattico
Indicatori corsi di studio
Internazionalizzazione
Orario Personalizzato
Il tuo orario personalizzato è disabilitato
Abilita
Ricerche
Cerca Docenti
Attività docente
Cerca Insegnamenti
Cerca insegnamenti degli Ordinamenti precedenti al D.M.509
Erogati in lingua Inglese
Le informazioni sulla didattica, sulla ricerca e sui compiti istituzionali riportate in questa pagina sono certificate dall'Ateneo; ulteriori informazioni, redatte a cura del docente, sono disponibili sulla pagina web personale e nel curriculum vitae indicati nella scheda.
Informazioni sul docente
DocenteBolchini Cristiana
QualificaProfessore ordinario a tempo pieno
Dipartimento d'afferenzaDipartimento di Elettronica, Informazione e Bioingegneria
Settore Scientifico DisciplinareING-INF/05 - Sistemi Di Elaborazione Delle Informazioni
Curriculum VitaeScarica il CV (204.5Kb - 05/07/2019)
OrcIDhttps://orcid.org/0000-0001-5065-7906

Contatti
Orario di ricevimento
DipartimentoPianoUfficioGiornoOrarioTelefonoFaxNote
DEIB1126GiovedìDalle 10:30
Alle 12:30
----During the second semester
E-mailcristiana.bolchini@polimi.it
Pagina web redatta a cura del docentehttps://bolchini.faculty.polimi.it/

Fonte dati: RE.PUBLIC@POLIMI - Research Publications at Politecnico di Milano

Elenco delle pubblicazioni e dei prodotti della ricerca per l'anno 2023
Nessun prodotto attualmente registrato nell'anno 2023


Elenco delle pubblicazioni e dei prodotti della ricerca per l'anno 2022 (Mostra tutto | Nascondi tutto)
Tipologia Titolo Pubblicazione/Prodotto
Contributo in Atti di convegno
Dependability of Alternative Computing Paradigms for Machine Learning: hype or hope? (Mostra >>)
Recommending Relevant Papers to Conference Participants: a Deep Learning Driven Content-based Approach (Mostra >>)
Selective Hardening of CNNs based on Layer Vulnerability Estimation (Mostra >>)
Curatela di volumi scientifici
Proceedings of the 2022 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition, DATE 2022 (Mostra >>)
Articoli su riviste
A Runtime Resource Management and Provisioning Middleware for Fog Computing Infrastructures (Mostra >>)
Approximation-Based Fault Tolerance in Image Processing Applications (Mostra >>)
DATE 2022: Aiming for an Online/ Onsite Format and Finally Moving to Online only (Mostra >>)
Fault Impact Estimation for Lightweight Fault Detection in Image Filtering (Mostra >>)


Elenco delle pubblicazioni e dei prodotti della ricerca per l'anno 2021 (Mostra tutto | Nascondi tutto)
Tipologia Titolo Pubblicazione/Prodotto
Contributo in Atti di convegno
Usability-based Cross-Layer Reliability Evaluation of Image Processing Applications (Mostra >>)
Articoli su riviste
MEDTEC students against coronavirus: Investigating the role of hemostatic genes in the predisposition to COVID-19 severity (Mostra >>)


Elenco delle pubblicazioni e dei prodotti della ricerca per l'anno 2020 (Mostra tutto | Nascondi tutto)
Tipologia Titolo Pubblicazione/Prodotto
Contributo in Atti di convegno
Error Modeling for Image Processing Filters accelerated onto SRAM-based FPGAs (Mostra >>)
Lightweight Fault Detection and Management for Image Restoration (Mostra >>)
Towards a phygital education: Politecnico di Milano through and after SARS-COV2 (Mostra >>)
Curatela di volumi scientifici
Proceedings of the 2020 Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition (Mostra >>)
Articoli su riviste
A Neural Network Based Fault Management Scheme for Reliable Image Processing (Mostra >>)
Holding Conferences Online due to COVID-19: The DATE Experience (Mostra >>)


Elenco delle pubblicazioni e dei prodotti della ricerca per l'anno 2019 (Mostra tutto | Nascondi tutto)
Tipologia Titolo Pubblicazione/Prodotto
Contributo in Atti di convegno
A Runtime Resource Management Policy for OpenCL Workloads on Heterogeneous Multicores (Mostra >>)
A Smart Fault Detection Scheme for Reliable Image Processing Applications (Mostra >>)
HATE: a HArdware Trojan Emulation Environment for Microprocessor-based Systems (Mostra >>)
Articoli su riviste
Scalable analytical model for reliability measures in aging VLSI by interacting Markovian agents (Mostra >>)
manifesti v. 3.5.7 / 3.5.7
Area Servizi ICT
29/05/2023