Con questa funzione puoi costruire il tuo calendario settimanale delle lezioni, personalizzato sulla base dei corsi che intendi seguire. Attenzione: l'Orario Personalizzato non sostituisce la presentazione del piano degli studi! E' uno strumento informale, che ti può aiutare a gestire al meglio l'organizzazione della frequenza alle lezioni prima della presentazione del piano studi. Dopo aver presentato piano ti raccomandiamo di utilizzare il servizio Orario delle lezioni presente nel tuo elenco dei Servizi Online.
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-
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aggiunta dell'insegnamento
rimozione dell'insegnamento
selezione della sezione del laboratorio di Architettura (N.B: la sezione effettiva in cui si dovrà seguire la didattica verrà determinata dopo la presentazione dei Piani di Studio)
-
Nella barra laterale a sinistra è indicato il numero degli insegnamenti inseriti nell'Orario.
Sono inoltre presenti questi comandi:
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Al termine dell'inserimento, puoi stampare il calendario che hai costruito.
Semestre (Sem) | 1 | Primo Semestre | 2 | Secondo Semestre | A | Insegnamento Annuale | (1) | Primo Emisemestre | (2) | Secondo Emisemestre |
Lingua d'erogazione
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Insegnamento completamente offerto in lingua italiana
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Insegnamento completamente offerto in lingua inglese
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--
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Non definita
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Note sulle attività didattiche
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Nel calcolo del "numero studenti iscritti" vengono considerati i soli studenti iscritti nell'anno accademico considerato. Non sono compresi gli eventuali studenti associati all'insegnamento con iscrizione in anni accademici precedenti.
Nel caso di corsi strutturati tenuti da più docenti, il numero di studenti iscritti è riferito al corso nel suo complesso, il dato sull'opinione degli studenti riguarda il singolo docente
I dati relativi all'ultimo anno accademico (numero di studenti iscritti e l'opinione degli studenti sulla didattica) non sono ancora definitivi.
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Le informazioni sulla didattica, sulla ricerca e sui compiti istituzionali riportate in questa pagina sono certificate dall'Ateneo; ulteriori informazioni, redatte a cura del docente, sono disponibili sulla pagina web personale e nel curriculum vitae indicati nella scheda.
Elenco delle pubblicazioni e dei prodotti della ricerca per l'anno 2022 (Mostra tutto | Nascondi tutto) |
Tipologia |
Titolo Pubblicazione/Prodotto |
Articoli su riviste |
Autore/i |
Bolchini, C.; Boracchi, G.; Cassano, L.; Miele, A.; Stucchi, D. |
Titolo della rivista |
IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS (ISSN: 0018-9340) |
Volume |
71 |
Fascicolo |
2 |
Pagine |
282 - 295 |
Link al prodotto |
http://hdl.handle.net/11311/1158407 |
|
Elenco delle pubblicazioni e dei prodotti della ricerca per l'anno 2021 (Mostra tutto | Nascondi tutto) |
Tipologia |
Titolo Pubblicazione/Prodotto |
Contributo in Atti di convegno |
A Lightweight Security Checking Module to Protect Microprocessors against Hardware Trojan Horses (Mostra >>)(Nascondi <<)
|
Autore/i |
Palumbo, Alessandro; Cassano, Luca; Reviriego, Pedro; Bianchi, Giuseppe; Ottavi, Marco |
Titolo del convegno |
2021 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) |
Luogo del convegno |
Online |
Titolo della rivista |
--
|
Pagine |
1 - 6 |
Link al prodotto |
http://hdl.handle.net/11311/1204477 |
|
Usability-based Cross-Layer Reliability Evaluation of Image Processing Applications (Mostra >>)(Nascondi <<)
|
Autore/i |
Bolchini, Cristiana; Cassano, Luca; Mazzeo, Andrea; Miele, Antonio |
Titolo del convegno |
2021 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) |
Luogo del convegno |
virtuale |
Titolo della rivista |
--
|
Pagine |
1 - 6 |
Link al prodotto |
http://hdl.handle.net/11311/1210881 |
|
Articoli su riviste |
Autore/i |
Lasheras, Ana; Canal, Ramon; Rodríguez, Eva; Cassano, Luca |
Titolo della rivista |
MICROELECTRONICS RELIABILITY (ISSN: 0026-2714) |
Volume |
116 |
Fascicolo |
-- |
Pagine |
1 - 10 |
Link al prodotto |
http://hdl.handle.net/11311/1158581 |
|
Elenco delle pubblicazioni e dei prodotti della ricerca per l'anno 2020 (Mostra tutto | Nascondi tutto) |
Tipologia |
Titolo Pubblicazione/Prodotto |
Contributo in Atti di convegno |
A Microprocessor Protection Architecture against Hardware Trojans in Memories (Mostra >>)(Nascondi <<)
|
Autore/i |
Bolat, A.; Cassano, L.; Reviriego, P.; Ergin, O.; Ottavi, M. |
Titolo del convegno |
15th IEEE International Conference on Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era, DTIS 2020 |
Luogo del convegno |
mar |
Periodo del convegno |
2020 |
Titolo della rivista |
--
|
Pagine |
1 - 6 |
Link al prodotto |
http://hdl.handle.net/11311/1150440 |
|
An Approximation-based Fault Detection Scheme for Image Processing Applications (Mostra >>)(Nascondi <<)
|
Autore/i |
Biasielli, M.; Cassano, L.; Miele, A. |
Titolo del convegno |
2020 Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition, DATE 2020 |
Luogo del convegno |
AlpExpo Congress Centre, fra |
Periodo del convegno |
2020 |
Titolo della rivista |
--
|
Pagine |
1331 - 1334 |
Link al prodotto |
http://hdl.handle.net/11311/1150422 |
|
Error Modeling for Image Processing Filters accelerated onto SRAM-based FPGAs (Mostra >>)(Nascondi <<)
|
Autore/i |
Bolchini, C.; Cassano, L.; Mazzeo, A.; Miele, A. |
Titolo del convegno |
26th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design, IOLTS 2020 |
Luogo del convegno |
ita |
Periodo del convegno |
2020 |
Titolo della rivista |
--
|
Pagine |
1 - 6 |
Link al prodotto |
http://hdl.handle.net/11311/1150419 |
|
Autore/i |
Bolchini, C.; Cassano, L.; Miele, A.; Biasielli, M. |
Titolo del convegno |
33rd IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, DFT 2020 |
Luogo del convegno |
ita |
Periodo del convegno |
19/10/2020 - 21/10/2020 |
Titolo della rivista |
--
|
Pagine |
1 - 6 |
Link al prodotto |
http://hdl.handle.net/11311/1170984 |
|
Lightweight Protection of Cryptographic Hardware Accelerators against Differential Fault Analysis (Mostra >>)(Nascondi <<)
|
Autore/i |
Lasheras, A.; Canal, R.; Rodriguez, E.; Cassano, L. |
Titolo del convegno |
26th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design, IOLTS 2020 |
Luogo del convegno |
ita |
Periodo del convegno |
2020 |
Titolo della rivista |
--
|
Pagine |
1 - 6 |
Link al prodotto |
http://hdl.handle.net/11311/1150437 |
|
Articoli su riviste |
A Neural Network Based Fault Management Scheme for Reliable Image Processing (Mostra >>)(Nascondi <<)
|
Autore/i |
Biasielli, M.; Bolchini, C.; Cassano, L.; Koyuncu, E.; Miele, A. |
Titolo della rivista |
IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS (ISSN: 0018-9340) |
Volume |
69 |
Fascicolo |
5 |
Pagine |
764 - 776 |
Link al prodotto |
http://hdl.handle.net/11311/1150418 |
|
A methodology for the design and deployment of distributed cyber–physical systems for smart environments (Mostra >>)(Nascondi <<)
|
Autore/i |
Tanganelli, G.; Cassano, L.; Miele, A.; Vallati, C. |
Titolo della rivista |
FUTURE GENERATION COMPUTER SYSTEMS (ISSN: 0167-739X) |
Volume |
109 |
Fascicolo |
-- |
Pagine |
420 - 430 |
Link al prodotto |
http://hdl.handle.net/11311/1147086 |
|
Elenco delle pubblicazioni e dei prodotti della ricerca per l'anno 2019 (Mostra tutto | Nascondi tutto) |
Tipologia |
Titolo Pubblicazione/Prodotto |
Contributo in Atti di convegno |
Autore/i |
Biasielli, Matteo; Bolchini, Cristiana; Cassano, LUCA MARIA; Miele, ANTONIO ROSARIO |
Titolo del convegno |
Design, Automation and Test in Europe Conference |
Luogo del convegno |
Firenze, I |
Titolo della rivista |
--
|
Pagine |
698 - 703 |
Link al prodotto |
http://hdl.handle.net/11311/1090457 |
|
HATE: a HArdware Trojan Emulation Environment for Microprocessor-based Systems (Mostra >>)(Nascondi <<)
|
Autore/i |
Bolchini, Cristiana; Cassano, LUCA MARIA; Giorgio Di Natale, ; Ivan, Montalbano; Repole, Giampiero; Andrea, Zanetti |
Titolo del convegno |
IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design |
Luogo del convegno |
Rhodes, Greece |
Periodo del convegno |
1-3/07/2019 |
Titolo della rivista |
--
|
Pagine |
109 - 114 |
Link al prodotto |
http://hdl.handle.net/11311/1120912 |
|
Protecting RSA hardware accelerators against differential fault analysis through residue checking (Mostra >>)(Nascondi <<)
|
Autore/i |
Lasheras, A.; Canal, R.; Rodriguez, E.; Cassano, L. |
Titolo del convegno |
32nd IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, DFT 2019 |
Luogo del convegno |
nld |
Periodo del convegno |
2019 |
Titolo della rivista |
--
|
Pagine |
1 - 6 |
Link al prodotto |
http://hdl.handle.net/11311/1120443 |
|
Elenco delle pubblicazioni e dei prodotti della ricerca per l'anno 2018 (Mostra tutto | Nascondi tutto) |
Tipologia |
Titolo Pubblicazione/Prodotto |
Articoli su riviste |
OLT(RE)2: An On-Line On-Demand Testing Approach for Permanent Radiation Effects in Reconfigurable Systems (Mostra >>)(Nascondi <<)
|
Autore/i |
Cozzi, D.; Korf, S.; Cassano, L.; Hagemeyer, J.; Domenici, A.; Bernardeschi, C.; Sterpone, L.; Porrmann, M. |
Titolo della rivista |
IEEE TRANSACTIONS ON EMERGING TOPICS IN COMPUTING (ISSN: 2168-6750) |
Volume |
6 |
Fascicolo |
4 |
Pagine |
511 - 523 |
Link al prodotto |
http://hdl.handle.net/11311/1120440 |
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