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Le informazioni sulla didattica, sulla ricerca e sui compiti istituzionali riportate in questa pagina sono certificate dall'Ateneo; ulteriori informazioni, redatte a cura del docente, sono disponibili sulla pagina web personale e nel curriculum vitae indicati nella scheda.
Informazioni sul docente
DocenteGhisi Aldo Francesco
QualificaProfessore associato a tempo pieno
Dipartimento d'afferenzaDipartimento di Ingegneria Civile e Ambientale
Settore Scientifico DisciplinareICAR/08 - Scienza Delle Costruzioni
Curriculum VitaeScarica il CV (103.76Kb - 28/04/2019)
OrcIDhttps://orcid.org/0000-0003-2280-0490

Contatti
Orario di ricevimento
DipartimentoPianoUfficioGiornoOrarioTelefonoFaxNote
Ingegneria Civile e Ambientale--104GiovedìDalle 09:15
Alle 10:15
02.23994310--o per appuntamento.
E-mailaldo.ghisi@polimi.it
Pagina web redatta a cura del docente--

Fonte dati: RE.PUBLIC@POLIMI - Research Publications at Politecnico di Milano

Elenco delle pubblicazioni e dei prodotti della ricerca per l'anno 2022
Nessun prodotto attualmente registrato nell'anno 2022


Elenco delle pubblicazioni e dei prodotti della ricerca per l'anno 2021 (Mostra tutto | Nascondi tutto)
Tipologia Titolo Pubblicazione/Prodotto
Abstract in Atti di convegno
A Piezo-MEMS Device for Fatigue Testing of Thin Metal Layers (Mostra >>)
On-Chip Assessment of Scattering in the Response of Si-Based Microdevices (Mostra >>)
Contributo in Atti di convegno
A Stochastic Model to Describe the Scattering in the Response of Polysilicon MEMS (Mostra >>)
Failure of MEMS Microphones during Impact Tests: The Role of Anchor Imposed Motion (Mostra >>)
Learning the Link between Architectural Form and Structural Efficiency: A Supervised Machine Learning Approach (Mostra >>)
On the failure of silicon thin membranes during free fall tests for MEMS microphones (Mostra >>)
Articoli su riviste
A new approach for the control and reduction of warpage and residual stresses in bonded wafer (Mostra >>)
Consistent implicit time integration for viscoplastic modeling of subsidence above hydrocarbon reservoirs (Mostra >>)
Top-down, multi-scale numerical simulation of MEMS microphones under guided free fall tests (Mostra >>)


Elenco delle pubblicazioni e dei prodotti della ricerca per l'anno 2020 (Mostra tutto | Nascondi tutto)
Tipologia Titolo Pubblicazione/Prodotto
Contributo in Atti di convegno
A numerical study on explicit vs implicit time integration of the Vermeer-Neher constitutive model (Mostra >>)
Chipping and wearing in MEMS inertial sensors: Effects on stability and predictive analysis through test structures (Mostra >>)
Numerical Analysis of Impact Induced Failure for MEMS Membranes during Guided Free Fall Tests (Mostra >>)
Articoli su riviste
Design and construction of a new detector to measure ultra-low radioactive-isotope contamination of argon (Mostra >>)


Elenco delle pubblicazioni e dei prodotti della ricerca per l'anno 2019 (Mostra tutto | Nascondi tutto)
Tipologia Titolo Pubblicazione/Prodotto
Contributo in Atti di convegno
DarkSide-50 results and the future liquid argon dark matter program (Mostra >>)
Modelling and Simulation of Glass Frit Bonding of Silicon Wafers (Mostra >>)
Articoli su riviste
Effect of imperfections due to material heterogeneity on the offset of polysilicon MEMS structures (Mostra >>)


Elenco delle pubblicazioni e dei prodotti della ricerca per l'anno 2018 (Mostra tutto | Nascondi tutto)
Tipologia Titolo Pubblicazione/Prodotto
Contributo in Atti di convegno
Polysilicon MEMS Sensors: Sensitivity to Sub-Micron Imperfections (Mostra >>)
Monografie o trattati scientifici
Mechanics of Microsystems (Mostra >>)
Articoli su riviste
Bearable maximum seismic action for existing concrete dams by Italian standards (Mostra >>)
Blade cutting of thin walled structures by explicit dynamics finite elements (Mostra >>)
DarkSide-20k: A 20 tonne two-phase LAr TPC for direct dark matter detection at LNGS (Mostra >>)
On-chip testing: A miniaturized lab to assess sub-micron uncertainties in polysilicon MEMS (Mostra >>)
Statistical investigation of the mechanical and geometrical properties of polysilicon films through on-chip tests (Mostra >>)
manifesti v. 3.4.23 / 3.4.23
Area Servizi ICT
27/05/2022